恒奧德新型測厚儀 使用注意事項

使用注意事項

測厚儀的測試方法主要有:磁性測厚法，放射測厚法，電解測厚法，渦測厚法，聲波測厚法。

測量注意事項:

⒈在行測試的時候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。

⒉測量時側(cè)頭與試樣表面保持垂直。

⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。

⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。

⒌測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會不會產(chǎn)生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。

⒍測量時要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量，因為般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

⒎在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數(shù)。

⒏在行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此聲波測厚儀在行對側(cè)頭清除附著物質(zhì)。

本段應(yīng)用

1、激光測厚儀是利用激光的反射原理，根據(jù)光切法測量和觀察機(jī)械制中零件表面的微觀幾何形狀來測量產(chǎn)品的厚度，是種非接觸式的動態(tài)測量儀器。它可直接輸出數(shù)字信號與業(yè)計算機(jī)相連接，并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種業(yè)設(shè)備。

2、X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時，X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的性，滄州歐譜從而測定材料的厚度，是種非接觸式的動態(tài)計量儀器。它以PLC和業(yè)計算機(jī)為核心，采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng)，達(dá)到要求的軋制厚度。主要應(yīng)用行業(yè):有色金屬的板帶箔、冶金行業(yè)的板帶。

3、紙張測厚儀:適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。

4、薄膜測厚儀:用于測定薄膜、薄片等材料的厚度，測量范圍寬、測量度，具有數(shù)據(jù)輸出、意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動斷電等點(diǎn)。

5、涂層測厚儀:用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.

6、聲波測厚儀:聲波測厚儀是根據(jù)聲波脈沖反射原理來行厚度測量的，當(dāng)探頭發(fā)射的聲波脈沖通過被測物體到達(dá)材料分界面時，脈沖被反射回探頭，通過測量聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使聲波以恒定速度在其內(nèi)傳播的各種材料均可采用此原理測量。

主要類型

用于測定材料本身厚度或材料表面覆蓋層厚度的儀器。有些構(gòu)件在制和檢修時測量其厚度，以便了解材料的厚薄規(guī)格，各點(diǎn)均勻度和材料腐蝕、磨損程度;有時則要測定材料表面的覆蓋層厚度，以保證產(chǎn)量和安。根據(jù)測定原理的不同，常用測厚儀有聲、磁性、渦、同位素等四種。

聲波測厚儀聲波在各種介質(zhì)中的聲速是不同的，但在同介質(zhì)中聲速是常數(shù)。聲波在介質(zhì)中傳播遇到二種介質(zhì)時會被反射，測量聲波脈沖從發(fā)射至接收的間隔時間，即可將這間隔時間換算成厚度。在電力業(yè)中應(yīng)用廣的就是這類測厚儀。常用于測定鍋爐鍋筒、受熱面管子、管道等的厚度，也用于校核件結(jié)構(gòu)尺寸等。這類測厚儀多是攜帶式的，體積與小型半導(dǎo)體收音機(jī)相近，厚度值的顯示多是數(shù)字式的。對于鋼材，大測定厚度達(dá)2000 mm左右，度在±0.01~±0.1 mm之間。

磁性測厚儀在測定各種導(dǎo)磁材料的磁阻時，測定值會因其表面非導(dǎo)磁覆蓋層厚度的不同而發(fā)生變化。利用這種變化即可測知覆蓋層厚度值。常用于測定鐵磁金屬表面上的噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化層、油漆層等的厚度。

渦測厚儀當(dāng)載有頻電的探頭線圈置于被測金屬表面時，由于頻磁場的作用而使金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦，此渦產(chǎn)生的磁場又反作用于探頭線圈，使其阻抗發(fā)生變化，此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離(即覆蓋層的厚度)有關(guān)，因而根據(jù)探頭線圈阻抗的變化可間接測量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他緣覆蓋層的厚度。

同位素測厚儀利用物質(zhì)厚度不同對輻射的吸收與散射不同的原理，可以測定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片，塑料膜，紙張等的厚度。常用的同位素射線有γ射線、β射線等。